Fischer膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它是非接觸測量，不會(huì)因?yàn)槟p而損失精度，尤其適用于在運(yùn)動(dòng)中或惡劣環(huán)境中進(jìn)行多點(diǎn)測量。而且，相對(duì)于超聲波測厚儀精度更高，相對(duì)X射線測厚儀沒有輻射污染。因此，在在線厚度測量方面具有明顯的優(yōu)勢。

　　用Fischer膜厚儀在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

　　下面小編要與大家分享的是Fischer膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)方法：

　　一、校準(zhǔn)箔

　　對(duì)于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。

　　二、基體

　　1、對(duì)于磁性方法，膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進(jìn)行比較。

　　2、如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：

　　（1）在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)。

　　（2）用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。